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在線式X射線熒光分析儀 XMS
XMS是一款適用于工業自動化的在線式X射線熒光分析儀，具有快速數據采集和分析能力，能夠幫助制造商優化工藝流程和提供產品質量。
手持式X熒光光譜儀
能夠快速而準確的完成元素定性/定量分析，適用于多種環境，包括合金分析、PMI材質分析，礦石成分分析、土壤重金屬檢測、RoHS 2.0檢測，鍍層測厚、化肥和動物飼料成分分析、鋰電池以及廢舊金屬回收等各行.....
科研手持XRF光譜儀TRACER 5g
TRACER 5g科研手持XRF光譜儀采用了一個帶有1μm石墨烯窗口的新探測器，石墨烯窗口取代了傳統的8μm鈹窗口
微區X射線熒光光譜儀M4 TORNADO
微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。
TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX
TXRF全反射X射線熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U。
微區X射線熒光成像光譜儀PLUS
M4 TORNADO PLUS 微區X射線熒光成像光譜儀是能夠檢測出C（6）-Am（95）間元素的微區X射線熒光成像光譜儀。
便攜臺式xrf分析儀
便攜式XRF分析儀適用于在實驗室內外檢測固體,粉末和液體.雖然手持式XRF輕便靈活,適合進行現場檢測,但是,當需要對樣品進行預備時;當樣品為粉末,固體和液體等形態,存放在容器中時;當需要較長時間的檢測.....

布魯克探針式輪廓儀/臺階儀
能夠實現嚴苛的納米水平表面測量，提供更高的重復性和分辨率，不論是性能、易用性還是價格都更具有競爭力的探針式輪廓儀
三維光學輪廓儀
表面輪廓儀用于加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。融合了表征、可定制選項和易用性等特點，可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。
布魯克探針式輪廓儀系統 / 臺階儀系統 Dektak XTL
一款可容納高達 350mm x 350mm 的樣品，適用于大規格晶圓和面板制造領域、QC（質量控制）/QA（質量保證）的探針式輪廓儀系統
原子力顯微鏡Dimension Icon
原子力顯微鏡Dimension Icon是一款性能卓越、具備智能成像模式 ( Scan Asyst) 和大樣品臺的原子力顯微鏡
光學輪廓儀ContourGT-X
布魯克光學輪廓儀特性：業界標桿，大視場下高的垂直分辨率；從0.5x到200x不同放大倍率實現不同面型和織構表面的表征；硬件的優化設計進一步的儀器抗噪聲能力、系統靈活性和測量穩定性
原子力顯微鏡Dimension FastScan
原子力顯微鏡 (AFM)在不損失Dimension? Icon?分辨率的儀器性能前提下，解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數據的時間。
生物原子力顯微鏡 NanoWizard? 4 XP BioScience
專為生物科學研究打造的具有更高性能與更高靈活性的生物型原子力顯微鏡NanoWizard? 4 XP BioScience

薄膜應力及基底翹曲測試設備
FSM128系列設備，裝備有光學掃描系統。
薄膜應力及基底翹曲測試設備
FSM 500TC 200mm 高溫應力測試系統可以幫助研發和工藝工程師評估薄膜的熱力學性能和穩定性特性
布魯克 Delta-X 多功能X射線衍射儀/反射儀 XRD
提供科研開發工作所需的各種X射線測試解決方案
布魯克 JV-QC3 高分辨率X射線衍射儀 XRD
JV-QC3 高分辨率X射線衍射儀是布魯克半導體部門新推出的專為化合物半導體產業所設計的半導體生產質量控制設備。
硅片表面形貌測量
硅片表面形貌測量,材料表面形貌分析
晶圓厚度測量系統
FSM413回波探頭傳感器使用紅外（IR）干涉測量技術。

I-V 曲線測試儀
PV200為光伏系統提供了一個測試及診斷解決方案
電荷靈敏前置放大器
CUBE（立方）是一種以脈沖復位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續復位模式運行。
原子力顯微鏡探針/AFM探針
布魯克AFM探針具有多種款式和型號，能夠滿足多種應用領域中的原子力顯微鏡（AFM）解決方案。
涂層測厚儀
涂層測厚儀應用范圍廣泛：它們是檢查進貨部門所交付材料的理想工具。
涂層測厚儀SURFIX?X系列
的測量儀器: 彩屏, PC 連接，易操作, 以及適合PHYNIX探頭。
涂層測厚儀SURFIX?系列
用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍涂層的測量
涂層測厚儀SURFIX?簡易系列
涂層測厚儀SURFIX?簡易系列適用于粗糙的環境及實驗室中。