布魯克 探針式輪廓儀/臺階儀
能夠實現嚴苛的納米水平表面測量，提供更高的重復性和分辨率，不論是性能、易用性還是價格都更具.....
三維光學輪廓儀
表面輪廓儀用于加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。.....
布魯克 探針式輪廓儀系統 / 臺階儀系統 Dektak XTL
一款可容納高達 350mm x 350mm 的樣品，適用于大規格晶圓和面板制造領域、QC（.....
原子力顯微鏡Dimension Icon
原子力顯微鏡Dimension Icon是一款性能卓越、具備智能成像模式 ( Scan A.....
光學輪廓儀ContourGT-X
布魯克光學輪廓儀特性：業界標桿，大視場下高的垂直分辨率；從0.5x到200x不同放大倍率實.....
反射膜厚儀
反射膜厚儀是一種非接觸式、快速的光學薄膜厚度測量技術。
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